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测试老化

先进封装测试老化半导体封装高精密滑台芯片测试

测试老化

全自动工业激光器COS测试机

产品特性

• 测试功能包含LIV,光谱,远场,偏振消光比
• 自动OCR芯片ID或基板ID进行数据绑定
• 上下料方式可选择华夫盒或老化夹具,根据测试结果分bin下料
• 双工位并行测试,UPH翻倍
• 芯片端面缺陷检测(开发中)

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产品参数

6-全自动工业激光器COS测试机-2.jpg

深圳总部:广东省深圳市光明区裕丰达工业园3栋

前台总机:0755-23019639

咨询邮箱:laserx.xs@laserx.net