首页 / 产品中心 / 芯片测试类
测试老化类光路组装类半导体封装类芯片测试类高精密滑台
• 双平台设计可同时进行常温、高温的LIV和光谱测试 • Bar条全自动上下料，具备自动识别、校正和定位功能 • 支持2寸或4寸Tray盒上料，6寸蓝膜下料 • 支持 Chip 编码的识别 • 支持不合格品打点功能 • 支持背光功率测试功能
深圳总部：广东省深圳市光明区裕丰达工业园3栋
前台总机：0755-23019639
咨询邮箱：laserx.xs@laserx.net
关于镭神公司简介发展历程企业文化荣誉资质
产品中心测试老化类光路组装类半导体封装类芯片测试类高精密滑台
解决方案LASERX一站式解决方案硅光一体化解决方案大功率老化测试解决方案先进封装解决方案
新闻资讯公司新闻员工关怀展会资讯新品发布
Copyright © 2017-2026 镭神技术（深圳）有限公司 版权所有 粤ICP备2020137519号-1
深圳总部：广东省深圳市光明区裕丰达工业园3栋
前台总机：0755-23019639
咨询邮箱：laserx.xs@laserx.net
