芯片测试类
Bar测试机
产品特性
• 双平台设计可同时进行常温、高温的LIV和光谱测试
• Bar条全自动上下料,具备自动识别、校正和定位功能
• 支持2寸或4寸Tray盒上料,6寸蓝膜下料
• 支持 Chip 编码的识别
• 支持不合格品打点功能
• 支持背光功率测试功能

深圳总部:广东省深圳市光明区裕丰达工业园3栋
前台总机:0755-23019639
咨询邮箱:laserx.xs@laserx.net
Copyright © 2017-2026 镭神技术(深圳)有限公司 版权所有 粤ICP备2020137519号-1